當前位置:首頁|X射線檢測設(shè)備
|
● 一鍵切換射線源
● 強大的測試能力,靈活的配置方案
● 多種掃描模式:螺旋、偏置、有限角等
● 具備強大的擴展能力
分辨率
像素細節(jié)分辨能力 | 200nm |
空間分辨率* | 500nm |
X射線源
類型 | 開管反射式 | 開管透射式(微焦點/納焦點) |
最高電壓 | 300KV/240KV/225KV/190KV/160KV | 240KV/225KV/190KV/160KV |
平板探測器
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 600mm×600mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 25kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 2770mm×1540mm×2040mm(長×寬×高) |
設(shè)備重量 | 8000kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測試卡進行測試驗證
▲ 技術(shù)參數(shù)為參考指標,更多規(guī)格型號,歡迎來電咨詢
原位4D成像 結(jié)合原位力學和溫度等加載裝置,實現(xiàn)4D CT成像。 |
華東 工 廠 地址:中國江蘇省昆山市巴城鎮(zhèn)景潭路588號 商務(wù)電話:13862399796
華南辦事處地址:中國廣東深圳市光明區(qū)匯通路7號萬和科技大廈A棟1205室 商務(wù)電話:18962646738