特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
● 閉管射線源，無(wú)需耗材，維護(hù)簡(jiǎn)單
● 腔體尺寸較大，具備較強(qiáng)的擴(kuò)展能力
● 0.5μm高空間分辨率
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
技術(shù)指標(biāo)
分辨率
像素細(xì)節(jié)分辨能力 | 1μm(平板探測(cè)器) / 50nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
空間分辨率* | 3μm(平板探測(cè)器) / 500nm(物鏡耦合探測(cè)器) |
X射線源
類型 | 閉管 |
最高電壓 | 150KV |
平板探測(cè)器
成像面積 | 244mm×195mm |
像素矩陣 | 1920×1536 |
物鏡耦合探測(cè)器
鏡頭 | 4X、10X、20X |
樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | 400mm×300mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 15kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 1620mm×1100mm×1700mm(長(zhǎng)×寬×高) |
設(shè)備重量 | 2400kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測(cè)試卡進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證
▲ 技術(shù)參數(shù)為參考指標(biāo)，更多規(guī)格型號(hào)，歡迎來(lái)電咨詢
附件擴(kuò)展
 | 原位4D成像 結(jié)合原位力學(xué)和溫度等加載裝置，實(shí)現(xiàn)4D CT成像。 |
 | 物鏡耦合探測(cè)器 實(shí)現(xiàn)大工作距離下的高分辨率成像。 |
