電壓降測(cè)試儀主要是對(duì)被測(cè)試物施加一定的電流，在恒流狀態(tài)下，依據(jù)歐姆定律來測(cè)量被測(cè)物電壓損耗之狀況;目的是模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下出現(xiàn)的各種電性能故障，是否會(huì)影響產(chǎn)品的壽命和性能，一般開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降要求會(huì)比較高，也比較嚴(yán)格。

　　電壓降測(cè)試儀適用于測(cè)量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降，從而判斷接線口優(yōu)劣，儀器具有可調(diào)的恒電流輸出，微電壓測(cè)試和數(shù)碼管顯示。測(cè)試可設(shè)定時(shí)間，時(shí)間到和電流超高關(guān)斷電路測(cè)量。